「En/ComplexRI」の版間の差分
| 52行目: | 52行目: | ||
|[[Input#Input02|Input02]]：Input file | |[[Input#Input02|Input02]]：Input file | ||
|- | |- | ||
|[[Input#Input03|Input03]]：Which kinds of data is | |[[Input#Input03|Input03]]：Which kinds of data is written in the Input file, absorptance or reflectance? | ||
|- | |- | ||
|[[Input#Input04|Input04]]：The range of wavenumber to fit the Reflectance Spectra | |[[Input#Input04|Input04]]：The range of wavenumber to fit the Reflectance Spectra | ||
2021年12月19日 (日) 01:17時点における版
| Index |
|---|
| Overview |
| Characteristic |
| Production |
| Tutorial |
| Manual |
| Internal processing |
Overview
本ComplexRIは、全反射実験から得たデータを用いて、複素屈折率の分散を調べるためのWebアプリケーションである。複素屈折率の分散を調べることは和周波分光の解析に役立つ。界面SFG分光とは可視光と赤外光の2つの光を照射したときに、界面で選択的に発生する和周波光を検出するもので、2次の非線形効果を応用した分光法であり、近年液体界面や高分子界面などを含めた幅広い界面分析に応用されるようになった。この和周波発生はフレネル係数に大きく影響されており、また、フレネル係数は屈折率に依存した量である。そこで和周波分光を解析するには複素屈折率の分散を調べることが必要であり、本Complexそれを手軽に行えることを目的に開発された。
Characteristic
- 全反射実験の実験データさえあれば、複素屈折率の分散を出すことが可能。
- 適用範囲は赤外領域。これは、和周波分光では官能基を調べることを目的としており、これに一致する光の周波数帯が赤外領域だからである。
Production
和周波分光の結果をより正確に解析するための情報として様々な官能基に関する複素屈折率の分散を調べた論文[1][2][3]がある。これは全反射実験のデータに基づいて屈折率の分散をまとめたものになっている。本ComplexRIはこれに基づいて、全反射実験のデータさえ与えれば、同じようなフィッティングが簡単に行えるように開発された。
フィッティング計算には論文[2][3]で用いられたものを主として用いている。これは、本研究室の王助教と以前森田グループに所属していた村田によって作成されたものである。本ComplexRIでは初期値を設定しなくてもフィッティングが行えるように、少しアルゴリズムを改良している。これは本研究室の森田教授、王助教の指導の下で上村が実装した。
また、WebアプリケーションとしてのUIも上村が実装した。
Tutorial
| index（Tutorial） |
|---|
| Tutorial01：Input the file |
| Tutorial02：Input the condition for analysis |
| Tutorial03：Change the format of the Input file |
| Tutorial04：Input the condition of ATR-IR experiment |
Manual
| index（Input） |
|---|
| Input01：The name of output file |
| Input02：Input file |
| Input03：Which kinds of data is written in the Input file, absorptance or reflectance? |
| Input04：The range of wavenumber to fit the Reflectance Spectra |
| Input05：The lines to use for analysis in the Input file |
| Input06：The order of data in the inpurfile, ascending order or descending order? |
| Input07：The kinds of the substrate used in the ATR-IR experiment |
| Input08：Angle of incidence of IR light |
| Input09：Refractive index without dispersion |
| Input10：How strictly you fit the Reflectance Spectra ? |
| Input11：How to set the paramater of the fitting function |
| index（Output） |
|---|
| Output01：Number |
| Output02：Table |
| Output03：Graph |
| Output04：Output file |
Internal processing
| index（Internal peocessing） |
|---|
| explanation01：how to fit the Reflectance spectra |
※このページを見るにはブラウザとしてchromeを使用されることを推奨しています。ブラウザによっては読み込みにかなり時間がかかることがあります。
Top of this page]
References
- ↑ "Effect of Frequency-Dependent Fresnel Factor on the Vibrational Sum Frequency Generation Spectra for Liquid/Solid Interfaces" Lin Wang, Satoshi Nihonyanagi, Ken-ichi Inoue, Kei Nishikawa, Akihiro Morita, Shen Ye, Tahei Tahara, J. Phys. Chem. C, 123(25) 15665-15673 (2019).
- ↑ 2.0 2.1 "Dispersion of Complex Refractive Indices for Intense Vibrational Bands. II Implication to Sum Frequency Generation Spectroscopy" Lin Wang, Ryo Murata, Ken-ichi Inoue, Shen Ye, and Akihiro Morita, J. Phys. Chem. B, 125(34), 9804-9810 (2021).
- ↑ 3.0 3.1 "Dispersion of Complex Refractive Indices for Intense Vibrational Bands. I Quantitative Spectra" Ryo Murata, Ken-ichi Inoue, Lin Wang, Shen Ye, and Akihiro Morita, J. Phys. Chem. B, 125(34), 9794-9803 (2021).